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山東霍爾德電子科技有限公司
 
 
薄膜介質損耗儀
  • 品牌:霍爾德電子
  • 型號:
  • 貨號:HD-JD1
  • 發布日期: 2025-06-20
  • 更新日期: 2025-06-20
產品詳請
分辨率 0.1
重量
品牌 霍爾德電子
貨號 HD-JD1
電源電壓 220V
型號 HD-JD1
測量范圍 1-1000自動/手動量程
規格
加工定制
外形尺寸
測量精度 11BIT

介質損耗和介電常數是表征電介質材料性能的關鍵物理參數,對于金屬氧化物、工程板材、陶瓷材料(包括陶器和瓷器)、云母絕緣材料、特種玻璃以及各類塑料等高分子材料都具有重要意義。通過準確測定這些參數,可以深入分析材料組成、微觀結構及外界環境條件對介電性能的影響機制,從而為優化材料配方、改進制備工藝以及開發高性能電介質材料提供重要的理論依據和實驗基礎。這一研究在電子元器件、電力設備、通信技術等領域具有廣泛的應用價值。



薄膜介質損耗儀是一種用于準確測量材料介電性能的專業儀器,主要應用于以下領域:

1.科研機構——用于新型電介質材料的性能分析與理論研究,為材料科學領域的創新提供實驗依據;

2.高等院校——作為教學與科研的重要設備,支撐材料學、物理學、電子工程等學科的實驗研究;

3.工業企業——用于無機非金屬材料(如陶瓷、玻璃、高分子復合材料等)的質量控制與性能優化,指導產品開發與工藝改進。

該儀器在電子元器件、絕緣材料、新能源器件等領域具有廣泛的應用價值,為新型功能材料的研發與產業化提供關鍵測試手段。




薄膜介質損耗儀技術參數


1 信號源 DDS數字合成 10KHZ-70MHz
2 采樣精度 11BIT
3 測量范圍 1-1000自動/手動量程
4 分辨率 0.1
5 測量工作誤差 <5%
6 電感測量范圍 分辨率0.1nH
7 電感測量誤差 <3%
8 調諧電容 主電容30-540pF
9 電容直接測量范圍 1pF~2.5uF
10 調諧電容誤差 ±1 pF或<1% 0.1pF
11 諧振點搜索 自動掃描
12 合格預置范圍 5-1000聲光提示
13 LCD顯示參數 F,L,C,Q,Lt,Ct等
14 介質損耗系數精度 萬分之一
15 介電常數精度 千分之一
16 材料測試厚度 0.1mm-10mm
17 技術 儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。大電容值直接測量顯示。數顯微測量裝置,直接讀值。